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TECHNICAL ARTICLES泓川科技 LTCR4000 光譜共焦傳感器-光通訊芯片 FA 平行度測量應用案例
2025-11-17 核心結論：泓川LTCR4000探針型光譜共焦傳感器（側面90°出光），wanmei適配FA透明材質、安裝空間狹小的測量場景，通過底部照射多點測距實現角度矯正，精準保障FA平行度達標。一、應用背景與測量痛點應用場景光通訊芯片FA（光纖組件）作為光信號傳輸核心部件，其端面與安裝基準面的平行度直接影響插損（IL）、回波損耗（RL）等關鍵性能。FA采用透明光纖材質，裝配時由夾爪夾持固定，安裝區域空間狹小，需從底部完成非接觸式平行度檢測與角度矯正。核心測量痛點空間限制：安裝位置狹小，傳...精準賦能齒輪制造：泓川科技 LTC1200 光譜共焦傳感器輪廓測量應用實踐
2025-10-27 一、行業痛點：精密齒輪輪廓測量的核心需求與傳統困境在機械傳動領域，齒輪的輪廓精度直接決定了設備的運行穩定性——以新能源汽車驅動電機齒輪、工業機器人關節齒輪為例，若齒廓存在±5μm以上的偏差，會導致嚙合間隙波動，不僅增加傳動噪音（可能超過75dB），還會使齒輪壽命縮短30%以上。當前行業主流的齒輪輪廓測量方法，普遍存在難以突破的瓶頸：接觸式探針測量：需通過金屬探針逐點接觸齒面，不僅易劃傷滲碳淬火后的硬齒面（HRC58-62），且單齒測量耗時2~3分鐘，一條生產線若...LTS-I 系列紅外干涉測厚傳感器：納米級精度賦能半導體制造
2025-09-14 一、產品概述LTS-I系列紅外干涉測厚傳感器是專為半導體、先進封裝及化合物半導體等高精度制造領域打造的專業測厚設備，通過“高精度探頭+高性能控制器”的組合（適配LTS-IRP-D20測距型探頭、LTS-IRP-T50測厚型探頭，搭配LTS-IRC5400-S控制器），實現從“納米級精度檢測”到“高速在線全檢”的全場景覆蓋。產品以“零接觸、高穩定、強適配”為核心特性，可精準應對超薄晶圓、多層半導體材料及先進封裝組件的厚度測量需求，為產線工藝監控、良率提升及成本控制提供關鍵數據支...看泓川科技國產光譜共焦傳感器LTC1200如何對手機屏幕縫隙測量
2025-08-30 一、案例背景與測試需求智能手機屏幕與中框的縫隙是影響產品可靠性、防水性能及外觀品質的關鍵指標——縫隙過大會導致灰塵、水汽侵入，影響內部元器件壽命；縫隙不均勻則破壞外觀一致性，甚至引發屏幕按壓異響。本案例針對某型號OLED智能手機的屏幕-中框組裝縫隙展開測量，具體需求如下：縫隙規格：設計要求縫隙寬度為50~150μm（0.05~0.15mm），深度差≤20μm，全長度（20mm）內均勻性誤差≤5μm；材料兼容性：掃描范圍內同時存在透明材料（屏幕蓋板，3D曲面玻璃，透光率92%）...公司郵箱： qinyuankang@163.com
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